近年来，随着汽车电动化、智能化的加速发展，国内产业链对实现车规存储芯片国产替代与自主可控的共识逐渐增强。汽车存储芯片是汽车电子系统中的关键组件，负责存储和管理车辆运行过程中产生的数据，广泛应用于汽车的各个系统，如信息娱乐系统、动力系统和高级驾驶辅助（ADAS）系统等，对于保障车辆的正常运行和提升驾驶体验具有重要意义。
系统用途
国创中心自主研制的动态存储芯片 老化及HTOL寿命测试系统，支持DDR颗粒芯片的AECQ100早期寿命失效ELFR及高温工作寿命HTOL测试验证。DDR颗粒具有存储容量大、传输速率高，抗干扰能力要求强和功耗大等特点，本系统研制成功填补了国内动态存储芯片老化及寿命批量测试的系统设备空白，同时支撑了国内车规芯片行业标准的制定。
系统特点
数据传输速率最高可达3200MT/s；
采用独立温控技术，工作环境温度最高可达150℃；
覆盖CHECKBOARD、MARCH-C、全0、全1等存储器读写测试算法。支持客户自义读写算法开发及测试；
电性能测试覆盖芯片的IDD0～IDD8、IPP1～IPP7等电参数。单台可实现40个工位芯片同时并测；
支持并测工位可扩展；
本系统V1.0版本支持DDR4，可扩展到其它版本DDR及NORFlash等存储类芯片。
合作模式
本测试系统适用芯片生产企业、芯片设计企业、整车和零部件企业的芯片实验室和第三方测试机构等；公司提供测试系统，同时提供相关的技术培训和芯片测试服务。
联系方式
张老师 ，18910887780
雷老师 ，13910288113
